電信終端產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下運行或存儲之試驗方法

測試目的：驗證被測終端在高低溫環(huán)境下運行或存儲的環(huán)境適應能力

測試儀器：

高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱

技術(shù)參數：1)高溫存儲：70±2℃試驗時(shí)間：48H（溫度穩定后開(kāi)始計算）；

2)低溫存儲：-40±2℃試驗時(shí)間：48H（溫度穩定后開(kāi)始計算）；

3)溫度沖擊存儲：溫度在-40±2℃/60±2℃之間交替，10個(gè)循環(huán)；

4)高溫工作：50±2℃試驗時(shí)間：24H（溫度穩定后開(kāi)始計算）；

5)低溫工作：-20±2℃試驗時(shí)間：24H（溫度穩定后開(kāi)始計算）；

6)高溫高濕工作：溫度40±3℃，濕度93±3%試驗時(shí)間：24H（溫濕度穩定后開(kāi)始計算）。

預置條件：被測終端功能完好，外觀(guān)正常。

測試步驟

1)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查；

2)將被測終端關(guān)機狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到70±2℃溫度，溫度達到穩定后持續存儲48小時(shí)；

3)將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時(shí)后，進(jìn)行外觀(guān)、裝配、功能檢查，要求外觀(guān)、裝配、功能與測試前無(wú)明顯差異；

4)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查；

5)將被測終端關(guān)機狀態(tài)放進(jìn)高低溫試驗箱，高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫下降到-40±2℃溫度，溫度達到穩定后持續存儲48小時(shí)；

6)

將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時(shí)后，進(jìn)行外觀(guān)、裝配、功能檢查，要求外觀(guān)、裝配、功能與測試前無(wú)明顯差異；

7)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查；

8)將樣機關(guān)機狀態(tài)放進(jìn)冷熱沖擊試驗箱，樣機先在-40℃環(huán)境下存儲1小時(shí)，在5分鐘之內，溫度上升到60℃存儲1小時(shí)，此為一個(gè)循環(huán)。樣機共測試10個(gè)循環(huán)；

9)將被測終端從試驗箱取出在常溫中恢復2小時(shí)后，進(jìn)行外觀(guān)、裝配、功能檢查，要求外觀(guān)、裝配、功能與測試前無(wú)明顯差異；

10)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查；

11)將待測樣機開(kāi)機狀態(tài)，插入用戶(hù)卡，T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗箱，其中一臺樣機插上充電器，另一臺樣機使用電池供電開(kāi)機；

12)高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設定的溫度，溫度達到穩定后持續24小時(shí)；

13)

將樣機從試驗箱取出在常溫中恢復2小時(shí)后，進(jìn)行外觀(guān)、裝配、功能檢查，要求外觀(guān)、裝配、功能與測試前無(wú)明顯差異，因電池沒(méi)電導致的無(wú)法開(kāi)機不算故障，可充電后再進(jìn)行檢查；

14)在常溫下對被測終端進(jìn)行外觀(guān)、功能檢查；

15)將待測樣機開(kāi)機狀態(tài)，插入用戶(hù)卡，T-flash卡放進(jìn)高低溫試驗箱，其中一臺樣機插上充電器，另一臺樣機使用電池供電開(kāi)機。

16)

高低溫試驗箱內溫度以5℃/Min的速率從常溫上升到設定的溫度，濕度設定為標準要求的濕度，溫濕度達到穩定后持續24小時(shí)；

17)將樣機從試驗箱取出在常溫中恢復2小時(shí)后，進(jìn)行外觀(guān)、裝配、功能檢查，要求外觀(guān)、裝配、功能與測試前無(wú)明顯差異，因電池沒(méi)電導致的無(wú)法開(kāi)機不算故障，可充電后再進(jìn)行檢查。

預期結果1)步驟3后，被測終端外觀(guān)無(wú)明顯變化，基本功能正常;

2)步驟6后，被測終端外觀(guān)無(wú)明顯變化，基本功能正常;

3)步驟9后，被測終端外觀(guān)無(wú)明顯變化，基本功能正常;

4)步驟13后，被測終端外觀(guān)無(wú)明顯變化，基本功能正常;

5)

步驟17后，被測終端外觀(guān)無(wú)明顯變化，基本功能正常.

備注：

高低溫試驗箱共4臺，分為兩組，兩組并行測試，每組內的測試項串行測試：

第一組：高溫存儲、低溫存儲、溫度沖擊；第二組：高溫工作、低溫工作、高溫高濕。